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光譜橢偏儀SENresearch 4.0

免費(fèi)樣品檢驗 48小時發(fā)貨 工廠直銷
￥100萬-200萬

產(chǎn)品規(guī)格：測量高厚度薄膜，提供最寬的光譜范圍，最高光譜分辨率等

公司所在地：重慶

產(chǎn)品庫存：現(xiàn)貨及定制

可供貨地區(qū)：全國

其他說明：

最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理，無活動部件 創(chuàng)新2C設(shè)計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置

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最寬的光譜范圍和最高的光譜分辨率 采用 SSA 原理，無活動部件 創(chuàng)新2C設(shè)計的完整穆勒矩陣 SpectraRay/4 綜合橢偏儀軟件 可按需定制及升級配件配置收起

品牌：
SENTECH
型號：
SENresearch 4.0
用途范圍：
測量高厚度薄膜、近紅外光譜等
重慶眺...
重慶眺望科技有限公司
聯(lián)系人：眺望科技
主營業(yè)務(wù)：美國AJA磁控濺射，離子刻蝕、電子束蒸發(fā)等PVD設(shè)備，先進(jìn)電鍍設(shè)備，ICP,PECVD,ALD,RIE等離子體工藝設(shè)備等，美國Film Sense多波長橢偏儀，ATL激光器以及徠卡LEICA光學(xué)顯微鏡
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