品牌:
SENTRCH
型號:
SENpro
功能:
確定單層薄膜和復雜層堆疊的厚度和折射率
用途范圍:
測量及可對不同入射角橢偏測量進行數(shù)據(jù)分析
產品規(guī)格:VIS-NIR橢偏儀光學器件、5° 步長測角儀、激光對準等
公司所在地:重慶
產品庫存:現(xiàn)貨及定制
可供貨地區(qū):全國
經(jīng)濟高效的光譜橢偏儀 5°步長離散入射角的測角儀 獨特的步進掃描分析儀原理 測量光譜范圍為370nm-1050nm 應用范圍從1nm的極薄層到高達15μm的厚層
展開經(jīng)濟高效的光譜橢偏儀 5°步長離散入射角的測角儀 獨特的步進掃描分析儀原理 測量光譜范圍為370nm-1050nm 應用范圍從1nm的極薄層到高達15μm的厚層收起